Hệ thống theo dõi chất lượng lớp phủ được ưa chuộng dành cho các nhà sản xuất pin và màng phim tại Ấn Độ.

Đối với các nhà sản xuất pin và màng phim của Ấn Độ, Hệ thống theo dõi chất lượng lớp phủ CTS 3.0 của Arise là một giải pháp hàng đầu trong ngành.

Tích hợp công nghệ radar vi sóng và thị giác máy tính, hệ thống này sử dụng radar vi sóng để xuyên qua vật liệu nền và phát hiện sự sai lệch trọng lượng lớp phủ với độ chính xác lên đến 0.1 g/m². Thị giác máy tính của hệ thống xác định các khuyết tật bề mặt như lớp phủ mỏng, sự tích tụ chất kết dính và các khe hở trong lớp phủ, loại bỏ các điểm mù trong kiểm soát chất lượng vốn có trong các hệ thống cảm biến đơn lẻ thông thường.

Nhiều nhà sản xuất pin và phim của Ấn Độ đang phải đối mặt với những khó khăn trong sản xuất như sau:

Kết quả đo trọng lượng lớp phủ nằm trong phạm vi quy định, nhưng sản phẩm vẫn bị trả lại do lỗi ngoại quan.

Bề mặt trông có vẻ nguyên vẹn, nhưng độ bền bóc tách không đạt yêu cầu.

Nguyên nhân gốc rễ nằm ở đâu? Các thiết bị kiểm tra truyền thống chỉ sử dụng giải pháp cảm biến đơn: chúng hoặc đo độ dày bằng công nghệ tia X/hồng ngoại gần, hoặc dựa vào thị giác máy tính thông thường để kiểm tra bề mặt, để lại những điểm mù đáng kể trong việc kiểm soát chất lượng.

Giải pháp kiểm tra kép Arise CTS 3.0: Radar vi sóng + Thị giác máy

Mô-đun radar vi sóng

Sử dụng phương pháp đo không tiếp xúc trực tuyến, thiết bị này xuyên qua lớp nền PET và lớp mực để thu thập trực tiếp dữ liệu trọng lượng lớp phủ. Không bị ảnh hưởng bởi màu sắc bề mặt sản phẩm và các họa tiết in, thiết bị có thể phát hiện sai lệch lớp keo phủ thấp đến 0.1 g/m².

Mô-đun thị giác máy

Nó quét đồng bộ bề mặt sản phẩm để xác định chính xác các khuyết tật bề mặt bao gồm lớp phủ mỏng, tích tụ keo, lớp phủ bị bong tróc và lớp phủ bị thiếu.

Sự phối hợp và bổ sung công nghệ kép

Radar cảnh báo các bất thường → Hệ thống thị giác thực hiện xác minh đồng bộ; hệ thống thị giác phát hiện các vấn đề trên bề mặt → Radar truy tìm nguyên nhân gốc rễ.

CTS 3.0 không chỉ đơn thuần là sự kết hợp của hai công nghệ, mà là một giải pháp kiểm tra tích hợp với sự kết hợp sâu sắc ở cấp độ cao. Thiết bị này tương thích với máy cán màng khô, máy cán màng không dung môi và máy cán màng flexo. Nó được ứng dụng trong kiểm soát chất lượng trực tuyến cho các dây chuyền sản xuất trong ngành công nghiệp màng phim, băng keo và bao bì in ấn.

Đây chính xác là hệ thống theo dõi chất lượng lớp phủ mà các nhà sản xuất pin và màng phim của Ấn Độ đang tìm kiếm.

Câu Hỏi Thường Gặp

Hỏi: Hệ thống kiểm tra lớp phủ CTS 3.0 khác với các hệ thống kiểm tra lớp phủ thông thường như thế nào?

A: Các hệ thống thông thường sử dụng giải pháp cảm biến đơn (hồng ngoại gần hoặc tia X). Hệ thống CTS 3.0 có chế độ kiểm tra kép kết hợp radar vi sóng và thị giác máy tính để loại bỏ các điểm mù trong kiểm soát chất lượng.

Hỏi: Máy CTS 3.0 có thể đo trọng lượng lớp phủ khi sản phẩm có hoa văn in không?

A: Đúng vậy. Radar vi sóng loại bỏ nhiễu từ mực in và vật liệu nền để mang lại phép đo không tiếp xúc với độ chính xác cao, không bị ảnh hưởng bởi màu sắc bề mặt hoặc các họa tiết in.

Hỏi: Độ chính xác phát hiện của radar vi sóng là bao nhiêu?

A: Hệ thống có thể phát hiện sự sai lệch trọng lượng lớp phủ thấp đến 0.1 g/m².