Hệ thống theo dõi chất lượng lớp phủ CTS 3.0
- Không bị ảnh hưởng bởi chất liệu nền và mực in.
- Chỉ phát hiện hàm lượng keo
- Được trang bị ray dẫn hướng điện.
- Hệ thống quét ngang toàn chiều rộng
- Theo dõi và ghi chép cơ sở dữ liệu
- Ra-đa vi sóng
- Tính toán trọng lượng lớp phủ
- Hệ thống cảnh báo bất thường lớp phủ
- Truy vấn dữ liệu lịch sử
Hiểu rõ các chức năng của Hệ thống theo dõi chất lượng lớp phủ CTS 3.0
Hệ thống theo dõi chất lượng lớp phủ CTS 3.0 được thiết kế đặc biệt cho các dây chuyền sản xuất phủ và cán màng. Sử dụng công nghệ đo lường không tiếp xúc trực tuyến thế hệ mới của radar sóng micromet CV3, hệ thống có thể giám sát chính xác lượng và độ dày lớp phủ keo trong thời gian thực, cho phép theo dõi chất lượng từ đầu đến cuối và kiểm soát ổn định từ sản xuất đến thành phẩm. Điều này giúp các công ty nâng cao chất lượng, giảm lãng phí và tối ưu hóa hiệu quả sản xuất. Với công nghệ cảm biến và thuật toán độ chính xác cao, hệ thống ghi nhận sự thay đổi về trọng lượng và độ dày lớp keo trong thời gian thực, mang lại phản hồi nhanh, độ chính xác cao và độ ổn định mạnh mẽ. Hệ thống tương thích với nhiều loại keo khác nhau, bao gồm keo không dung môi, keo gốc dung môi và keo gốc nước, và có thể phát hiện chính xác ngay cả các lớp phủ siêu mỏng, loại bỏ hoàn toàn lỗi do lấy mẫu thủ công và đảm bảo chất lượng sản phẩm nhất quán cho mỗi cuộn.
Các thông số kích thước của hệ thống theo dõi chất lượng lớp phủ CTS 3.0
| Tiêu Đề | Tham số |
| Phương pháp đo lường | Hệ thống hấp thụ tia hồng ngoại |
| Quang phổ | Hệ thống lọc |
| Khoảng cách đo | 25mm (Tính từ đáy của thiết bị chính) |
| Khu vực đo lường | Đo độ phản xạ: 6 × 6mm |
| Kích thước thăm dò | 200 × 200 × 87mm (Dài × Rộng × Cao, không bao gồm các phần nhô ra) |
| Trọng lượng đầu dò | 2.11KG |
| Điện nguồn | AC 220V, 50 / 60Hz |
| Đầu ra bên ngoài | ModbusTCP |
| Nhiệt độ môi trường xung quanh | 5~45°C (Không ngưng tụ) |
| Độ chính xác đo lường | ± 0.05gsm |
